Электронная библиотека (репозиторий) Томского государственного университета

Add to Quick Collection   All 2 Results

Showing items 1 - 2 of 2.
  • «
  • ←
  • 1
  • →
  • »
Sort:
 Add All Items to Quick Collection
Add   Characterisation of the HEXITEC4S X-ray spectroscopic imaging detector incorporating through-silicon via (TSV) technology
Authors: Veale, Matthew C. | Booker, P. | Church, I. | Jones, L. L. | Lipp, J. | Schneider, Andreas | Seller, Paul H. | Wilson, Matthew D. | Chsherbakov, Ivan | Kolesnikova, Irina I. | Lozinskaya, Anastassiya D. | Novikov, Vladimir A. | Tolbanov, Oleg P. | Tyazhev, Anton V. | Zarubin, Andrei N.
Source: Nuclear instruments and methods in physics research Section A: accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment. 2022. Vol. 1025. P. 166083 (1-9)
Type: статьи в журналах
Date: 2022
Description: In this paper a new version of the HEXITEC spectroscopic imaging technology is presented. The HEXITEC ASIC maintains the same pixel electronics but, unlike the previous design, contains no I/O pads on ... More
Add   Программируемая коммутационная среда
Authors: Матросова, Анжела Юрьевна | Ким, Олег Хонбинович | Солдатов, Андрей Алексеевич | Костина, Мария Алексеевна | Солдатов, Алексей Иванович
Source: Вестник Томского государственного университета. Управление, вычислительная техника и информатика. 2020. № 50. С. 114-122
Type: статьи в журналах
Date: 2020
Description: Рассмотрены основные тенденции современного развития электронной компонентной базы. Показаны основные проблемы, с которыми сталкиваются производители микросхем. Одним из путей решения указанных пробле ... More
  • «
  • ←
  • 1
  • →
  • »
^